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LCR測試儀IM3523測量方法：連續(xù)測量不同條件
在電容的測量條件中希望以120Hz測量C-D。希望以100kHz測量ESR。這時，使用1臺告訴連續(xù)測量不同條件。
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2025-03-22 2023-11-20 日本HIOKI日置 LCR測試儀電橋主機+測試線● 基本精度±0.05％，測量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。● 內置比較器和BIN功能● 2ms的快速測試時間本產品不標配測量探頭和測試夾具。請結合應用單獨選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具。所有探頭均帶有一個1.
產品型號：IM3523廠商性質：經銷商更新時間：2024-11-28訪 問 量：1031
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日本HIOKI日置 LCR測試儀電橋主機+測試線
● 基本精度±0.05％，測量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。
● 內置比較器和BIN功能
● 2ms的快速測試時間
本產品不標配測量探頭和測試夾具。請結合應用單獨選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具。所有探頭均帶有一個1.5D-2V的同軸電纜。RS-232C接口連接：交互連接可使用交叉電纜。您可使用RS-232C電纜9637，不需要硬件控制器。
日本HIOKI日置 LCR測試儀電橋主機+測試線
| 測量模式 | LCR,連續(xù)測試 |
|---|---|
| 測量參數 | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
| 測量量程 | 100mΩ～100MΩ,10個量程(所有參數根據Z定義) |
| 可顯示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位]* ～9.99999G [單位])(*為最高分辯率時的顯示位數） 只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%) |
| 基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
| 測量頻率 | 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz) |
| 測量信號電平 | 正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms |
| 輸出阻抗 | 正常模式：100Ω |
| 顯示 | 單色LCD |
| 測量時間 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
| 功能 | 比較器，分類測量(BIN功能)，面板讀取/保存、存儲功能 |
| 接口 | EXT I/O(處理器)，USB通信(高速) 選件：RS-232C,GP-IB,LAN任選一 |
| 電源 | 100～240V AC，50/60Hz，最大50VA |
| 尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
| 附件 | 電源線×1，使用說明書×1，CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1 |
在電容的測量條件中希望以120Hz測量C-D。希望以100kHz測量ESR。這時，使用1臺告訴連續(xù)測量不同條件。
為了使用1臺LCR測試儀測量多種產品，要求高效率的更改設置。
IM3523的面板保存功能更，最多保存60組測量條件，還能保存128個開路/短路補償和線長補償等的補償值。使用面板功能讀取所保存的測量條件。除了手動讀取以外，可以使用外部控制端口控制面板編號的讀取，因此能縮短構筑自動化檢查產線的時間。
檢查4端子測量時樣品間的接觸不良。
測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻，如果在所設置的閾值以上時則顯示錯誤。
僅需輸入數值即可輕松計算精度。
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